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日本KITA半導體器件彈簧探針高頻KPS040-004CA適用于0.5mm和0.8mm間距的高頻產(chǎn)品。 1.5 毫米（使用時為 1.1 毫米）的短長度可通過短路徑長度實現(xiàn)低損耗。 采用高導電材料（如鍍金銅合金）減少信號傳輸損耗，確保高頻信號的完整性。

日本KITA半導體器件彈簧探針大電流、高溫是彈簧探頭耐高溫200°C，在高溫、大電流測試環(huán)境中表現(xiàn)出色。 其產(chǎn)品尤其擅長應對大電流和高溫環(huán)境，適用于半導體器件測試、晶圓測試、封裝測試等嚴苛場景。

日本KITA半導體器件彈簧探針非磁性是該彈簧探頭由非磁性材料制成，可用于必須消除磁性影響的測試環(huán)境。 適用于磁敏感環(huán)境（如MRI設備、高精度傳感器測試）或避免磁化污染的半導體測試。

日本KITA半導體器件彈簧探針開爾文接觸（4 端子連接）適用于高精度測試中使用的 4 端測量的彈簧探頭。 使兩個探針與半導體器件的一個端子接觸。探頭間距有 0.3、0.4、0.5mm 三種可選。

日本KITA半導體器件彈簧探針細間距（0.15~0.25mm間距）應用中扮演著關鍵角色. 主要用于高密度互連測試（如晶圓測試、芯片測試、PCB測試等） 彈簧探針內置于 IC 插座中，作為將被測設備垂直連接到電路板的電路。實現(xiàn)了低阻力、高耐久性。

日本KITA半導體器件彈簧探針標準間距0.3 mm至 1.0mm除了常規(guī)的鍍金柱塞外，我們還針對每種主要長度提供各種高度通用。 以“MARATHON”系列為中心，這是一款標準化產(chǎn)品，采用北制作所開發(fā)的電鍍和涂層來防止焊料轉移，以及達到相同效果的貴金屬。